Name: Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)
Price: 119440.00 CLP
Availability: InStock
Author: Nicolas Brodusch; Hendrix Demers; Raynald Gauvin
ISBN: 9789811044328

portada Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Nicolas Brodusch; Hendrix Demers; Raynald Gauvin

Año

2017

Idioma

Inglés

N° páginas

152

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9789811044328

N° edición

Categorías

Análisis espectral | espectroquímica

Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)

Nicolas Brodusch; Hendrix Demers; Raynald Gauvin (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Libro Nuevo

$ 119.440

$ 199.060

Ahorras: $ 79.620

40% descuento

Envío normal

Origen: Estados Unidos (Costos de importación incluídos en el precio)

Se enviará desde nuestra bodega entre el Miércoles 08 de Mayo y el Viernes 17 de Mayo.

Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Reseña del libro "Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)"

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage